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Dettagli del libro
Editore
Springer London, Limited
Pagine
183
Lingua
en
Autore
Rohit Kapur
Descrizione
Este libro se centra en la descripción de CTL (Core Test Language), un lenguaje utilizado para representar información de prueba en circuitos integrados digitales. El libro está orientado a ejemplos y busca que el lector piense como los creadores de CTL. Es relevante para aquellos interesados en probar circuitos integrados y en el desarrollo o uso de núcleos en metodologías de sistema en chip.
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